VLF系列0.1Hz程控超低頻高壓發(fā)生器，結(jié)合了現(xiàn)代數(shù)字變頻先進技術(shù)，采用微機控制，升壓、降壓、測量、保護自動化，并在自動升壓過程中能進行人工干預。由于全電子化，所以體積小重量輕、大屏幕液晶顯示，清晰直觀、且能顯示輸出波形、打印機輸出所有報告。程控超低頻高壓發(fā)生器，設(shè)計指標符合《電力設(shè)備專用測試儀器通用技術(shù)條件，第4部分：超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件》電力行業(yè)標準，使用十分方便。

執(zhí)行標準：DL/T849.4-2004 。

     直流耐壓試驗易于發(fā)現(xiàn)發(fā)電機端部缺陷，而不易檢出發(fā)電機槽部缺陷。50HZ交流耐壓試驗雖然易于發(fā)現(xiàn)發(fā)電機主絕緣在槽部和槽口處的缺陷，但隨著發(fā)電機容量的增大，發(fā)電機對地電容量愈來愈大。

如一臺30萬千瓦的發(fā)電機單相對地電容量為0.95微法左右。在進行1.5Un的50HZ交流耐壓試驗時，電容電流為7A，所需試驗變?nèi)萘拷?00KVA。若是一臺30萬KW的大型水輪發(fā)電機，單相對地電容為 1.85 微法，若取試驗電壓為46KV進行50HZ交流耐壓試驗，電容電流為26.7A，所需試驗變?nèi)萘繛?228KVA如此大的試驗設(shè)備，體積、重量、容量都是現(xiàn)場難以想象的:因而，0.1HZ耐壓試驗裝置的研究應(yīng)用解決了大型發(fā)電機的耐壓問題。

0.1HZ超低頻耐壓裝置的特點

1、可大幅度降低試驗設(shè)備的容量和重量。發(fā)電機進行50HZ交流耐壓試驗時所需試驗變的容量為：S=U2*ω*Cx

假定50HZ和0.1HZ時所施加的試驗電壓相同，則試驗變?nèi)萘恐葹椋?/span>

S0.1/S50=(U2*2π*0.1*Cx)/(U2*2π*50*Cx)=1/500

可見：試驗設(shè)備的容量、體積、重量大大減小。實際上，兩者試驗設(shè)備的實際容量之比1:50~100。3~5KVA容量的0.1HZ試驗設(shè)備能完成50HZ試驗容量要求數(shù)百KVA的試驗。

在復合絕緣內(nèi)部的電壓分布與50HZ時基本相同。

研究表明，在發(fā)電機復合絕緣內(nèi)部介質(zhì)上的電壓分布，0.1HZ電壓的分布按電容分布，與50HZ電壓的分布相同。說明兩者檢出缺陷，考驗絕緣狀況的有效性相同。

易于檢出發(fā)電機端部的絕緣缺陷，具有直流耐壓試驗的優(yōu)點。

試驗表明，0.1HZ電壓檢出槽部和口繞組絕緣缺陷的效果優(yōu)于直流電壓而稍遜于50HZ交流電壓。

絕緣內(nèi)部的局部放電量明顯減小。

實踐表明，對部分老化的發(fā)電機，雖通過50HZ交流耐壓試驗但由于積累效應(yīng)和強烈的局部放電在絕緣內(nèi)部造成的損傷加速了老化，反而降低了絕緣的原有絕緣水平，縮短了絕緣的壽命。

國內(nèi)某科研機構(gòu)實測了環(huán)氧粉云母絕緣在50HZ和0.1HZ電壓下的局部放電量，在單位時間(1分鐘)內(nèi)，0.1HZ時的局部放電量僅為50HZ的13750。因此，采用0.1HZ超低頻耐壓試驗可大大減輕局部放電對部分老化絕緣產(chǎn)生的破壞和老化積累作用，有利于延長發(fā)電機的壽命。

從以上分析可知，0.1HZ超低頻耐壓試驗既兼有50HZ交流耐壓和直流耐壓試驗的優(yōu)點，又克服了它們的缺點，因此，新《規(guī)程》規(guī)定，有條件時，可采用0.1HZ超低頻耐壓。目前，有的電廠在發(fā)電機耐壓試驗時只做0.1HZ和直流耐壓試驗，不做50HZ交流耐壓試驗；有的只做0.1HZ超低頻耐壓，不做直流和50HZ交流;有的先做0.1HZ，再做直流和50HZ交流耐壓。